Poids de l’Open access dans la production CNRS
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Titre
Investigation of tip-depletion-induced fail in scanning capacitance microscopy for the determination of carrier type
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BSO - Titre
Investigation of tip-depletion-induced fail in scanning capacitance microscopy for the determination of carrier type
XX
DOI
DOI
10.1016/j.ultramic.2016.12.016
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DOAI
DOAI
10.1016/j.ultramic.2016.12.016
XX
Identifiant WoS
WOS:000403342200006
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Accès ouvert
OA - Non
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Non OA
XX
Editeur
Elsevier
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Source
ULTRAMICROSCOPY
XX
ISSN
0304-3991
XX
Type de document
Article
XX
Notoriété
5 - Exceptionnelle
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INSIS - Institut des sciences de l'ingénierie et des systèmes
XX
uid:/ZKG0SGKB
12/10/2021 14:52:45 (latest)
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